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超大规模集成电路测试系统
- 制造厂商：泰瑞达
- 购置日期：2013-06-24
- 型号：J750
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 用于大容量存储器、模拟器件等产品测试，覆盖ROM、PROM、EEPROM flash memory等产品
- 主要附件： HD100 Digital Module
DPS Module
- 主要技术指标： 数字板：测试通道128
测试频率：100MHz
LVM:4M
DPS:8
- 技术特色： J750主要用于大容量存储器、模拟器件等产品测试，高达1024pin的测试通道，满足集成度高、测试引脚多的产品要求，可以开发并行测试，极大的提高测试效率，降低测试成本，上海华岭具备强大的程序开发和硬件设计能力，满足客户从测试开发、分析、验证、优化、量产测试的整体测试解决方案。
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