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  • 适用范围：纳米 形貌 成分 SEM EDS
  • 服务简介: 使用冷场扫描电子显微镜日立Hitachi S-4800，为微纳米材料提供形貌检测，最高分辨率达80万倍，分辨率达0.4nm，同时该设备搭载IXRF能谱仪，提供受检材料的元素定性分析。