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检测能力

检测分类

全部

  • 适用范围:FIB、聚焦离子束、SEM、扫描电镜
  • 服务简介: FIB(聚焦离子束),芯片的电路修改,芯片、金属材料的截面分析;SEM扫描电镜,材料表面形貌以及成分分析。