检测分类
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对大功率MOSFET、IGBT、BJT、SBD等半导体器件及其模组,进行静态及其动态特性测试服务,包括:
Vce、Vth、IDSS、IGSS、RDSON、VSD、雪崩耐量EAS、栅电容、Qg、Qgs、Qgd、栅极电阻RG、tr、td(on)、tf、td(off)、trr、Qrr、Irrm、二极管浪涌电流IFSM等