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  • 服务简介: EMMI可用于侦测组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷、静电放电破坏、闩锁效应、漏电、接面漏电、顺向偏压及在饱和区域操作的晶体管，由EMMI定位，找热点位置，进而得知缺陷原因，帮助后续的进一步失效分析。