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中国科学院上海应用物理研究所中科院上海应用物理研究所

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离子束分析系统

  • 制造厂商:上海三井真空设备有限公司
  • 购置日期:1990-11-23
  • 型号:4MV-01
  • 生产国别:
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仪器详情
  • 功能/应用范围: 卢瑟福背散射(RBS)技术是固体表面研究不可缺少与不可替代的分析手段,用于薄膜成份分析,背散射分析具有快速、定量、无损等特点,同时能多元素分析。主要分析项目为: 1.薄膜组成成份/厚度 2.区域浓度测定 3.薄膜密度测定(已知厚度)
  • 主要附件: 0
  • 主要技术指标: 1、信号检测 :背散射粒子 2、元素检测 :B-U 3、分析灵敏度:1 %~0.1 % 4、深度辨析率: 50 - 200 Å (±10 Å 精确度)
  • 技术特色: 0