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上海理工大学光学工程测试技术实验室上海理工大学光学工程实验室

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光学仪器仪器仪表

检测能力
  • 冲击
    能力名称:冲击
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》/GB/T25480-2010
    限制说明:
    资质说明:
  • 高温试验
    能力名称:高温试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》/GB/T25480-2010
    限制说明:
    资质说明:
  • 跌落试验(平面跌落与倾倒,自由跌落)
    能力名称:跌落试验(平面跌落与倾倒,自由跌落)
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第17部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》/GB/T25480-2010
    限制说明:
    资质说明:
  • 低温试验
    能力名称:低温试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》/GB/T25480-2010
    限制说明:
    资质说明:
  • 湿热试验
    能力名称:湿热试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第15部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》/GB/T25480-2010
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
冲击 《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》 GB/T25480-2010
高温试验 《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》 GB/T25480-2010
跌落试验(平面跌落与倾倒,自由跌落) 《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第17部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》 GB/T25480-2010
低温试验 《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》 GB/T25480-2010
湿热试验 《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》《光学和光学仪器 环境试验方法 第15部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》 GB/T25480-2010