检测能力

• 静区反射电平
  能力名称：静区反射电平

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：天线测试方法/IEEE149-2008

  限制说明：

  资质说明：
• 静区反射电平
  能力名称：静区反射电平

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：天线测试方法 天线测试场的鉴定/SJ2534.4-1985

  限制说明：

  资质说明：
• 屏蔽效能
  能力名称：屏蔽效能

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用涉密信息系统电磁屏蔽体等级划分和测量方法全部/GJB5792-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 静区反射电平
  能力名称：静区反射电平

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微波暗室性能测量方法/GJB6780-2009

  限制说明：

  资质说明：
• 归一化场地衰减
  能力名称：归一化场地衰减

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰/GB/T6113.104-2008/CISPR 16-1-4:2005

  限制说明：

  资质说明：
• 场幅均匀性
  能力名称：场幅均匀性

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微波暗室性能测量方法/GJB6780-2009

  限制说明：

  资质说明：
• 归一化场地衰减
  能力名称：归一化场地衰减

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：美国国家标准 低压电子电气设备在9kHz到40GHz范围内无线电噪声发射测量方法/ANSI C63.4-2009

  限制说明：

  资质说明：
• 多路径损耗
  能力名称：多路径损耗

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微波暗室性能测量方法/GJB6780-2009

  限制说明：

  资质说明：
• 绝缘电阻
  能力名称：绝缘电阻

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第一部分:通用要求/GB4793.1-2007/IEC60101-1:2001

  限制说明：

  资质说明：
• 场地电压驻波比
  能力名称：场地电压驻波比

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和方法规范-部分1-4:无线电骚扰和抗扰度测量设备-附属设备-辐射骚扰度/CISPR 16-1-4:2012

  限制说明：

  资质说明：
• 屏蔽效能
  能力名称：屏蔽效能

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：暗室屏蔽效能测量全部/EN50147-1:1997

  限制说明：

  资质说明：
• 绝缘耐压
  能力名称：绝缘耐压

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第一部分:通用要求/GB4793.1-2007/IEC60101-1:2001

  限制说明：

  资质说明：
• 屏蔽效能
  能力名称：屏蔽效能

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法全部/GB/T12190-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 归一化场地衰减
  能力名称：归一化场地衰减

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法/GB9254-2008/CISPR22:2006

  限制说明：

  资质说明：
• 场均匀性
  能力名称：场均匀性

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验/GB/T17626.3-2016/IEC61000-4-3:2010

  限制说明：

  资质说明：
• 屏蔽效能
  能力名称：屏蔽效能

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：电磁屏蔽体屏蔽效能的测量方法 IEEE全部/Std 299-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 归一化场地衰减
  能力名称：归一化场地衰减

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和方法规范-部分1-4:无线电骚扰和抗扰度测量设备-附属设备-辐射骚扰度/CISPR 16-1-4:2012

  限制说明：参考场地法

  资质说明：
• 交叉极化隔离度
  能力名称：交叉极化隔离度

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微波暗室性能测量方法/GJB6780-2009

  限制说明：

  资质说明：