检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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全部参数 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T 8456-2005 | 低温性能试验,温度变化试验在科苑纬四路77号检测 |
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射频电磁场辐射抗扰度试验 | 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 | GB/T 17626.3-2006 |
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事故放电能力验证 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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纹波因数验证 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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功率因数测定 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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高温性能试验 | 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 | GB/T2423.2-2008 |
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基本性能验证 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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噪声验证 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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效率测定 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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功能验证 | 低压直流成套开关设备和控制设备 | JB/T8456-2005 |
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