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上海理工大学光学工程测试技术实验室上海理工大学光学工程实验室

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光学仪器光学计

检测能力
  • Φ8mm平面测帽和工作台之间距离改变时,由立柱素线直线度引起测帽平面与工作台平面之间平行度变化
    能力名称:Φ8mm平面测帽和工作台之间距离改变时,由立柱素线直线度引起测帽平面与工作台平面之间平行度变化
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 固定工作台的工作台面与测量轴线的垂直度
    能力名称:固定工作台的工作台面与测量轴线的垂直度
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 光学计管的示值变动性
    能力名称:光学计管的示值变动性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 测量力的变化
    能力名称:测量力的变化
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 平面工作台的可调性
    能力名称:平面工作台的可调性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 测量杆在径向受力2N时所引起的示值变化
    能力名称:测量杆在径向受力2N时所引起的示值变化
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • Φ8mm平面测帽和工作台之间距离改变时,由光学计管圆柱部分素线直线度所引起测帽平面与工作台平面间平行度变化
    能力名称:Φ8mm平面测帽和工作台之间距离改变时,由光学计管圆柱部分素线直线度所引起测帽平面与工作台平面间平行度变化
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 光学计管的示值误差
    能力名称:光学计管的示值误差
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:光学计/JB/T10575-2013
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
Φ8mm平面测帽和工作台之间距离改变时,由立柱素线直线度引起测帽平面与工作台平面之间平行度变化 光学计 JB/T10575-2013
固定工作台的工作台面与测量轴线的垂直度 光学计 JB/T10575-2013
光学计管的示值变动性 光学计 JB/T10575-2013
测量力的变化 光学计 JB/T10575-2013
平面工作台的可调性 光学计 JB/T10575-2013
测量杆在径向受力2N时所引起的示值变化 光学计 JB/T10575-2013
Φ8mm平面测帽和工作台之间距离改变时,由光学计管圆柱部分素线直线度所引起测帽平面与工作台平面间平行度变化 光学计 JB/T10575-2013
光学计管的示值误差 光学计 JB/T10575-2013