检测能力

• 1031高温寿命（非工作）
  能力名称：1031高温寿命（非工作）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1038老炼（二极管、整流管、稳压管）
  能力名称：1038老炼（二极管、整流管、稳压管）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 部分参数
  能力名称：部分参数

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJBGJB 128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1032高温寿命（非工作）（抽样方案）
  能力名称：1032高温寿命（非工作）（抽样方案）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 4016反向漏电流
  能力名称：4016反向漏电流

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1027稳态工作寿命（抽样方案）
  能力名称：1027稳态工作寿命（抽样方案）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 3011集电极-发射极击穿电压
  能力名称：3011集电极-发射极击穿电压

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1026稳态工作寿命
  能力名称：1026稳态工作寿命

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 4011正向电压
  能力名称：4011正向电压

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 3407漏-源击穿电压
  能力名称：3407漏-源击穿电压

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1037间歇工作寿命（抽样方案）
  能力名称：1037间歇工作寿命（抽样方案）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1036间歇工作寿命
  能力名称：1036间歇工作寿命

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1042老炼和寿命试验（功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管）
  能力名称：1042老炼和寿命试验（功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1051温度循环（空气-空气）
  能力名称：1051温度循环（空气-空气）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 1039 老炼（晶体管）
  能力名称：1039 老炼（晶体管）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：