检测能力

• 低电平选通电流IST(L)
  能力名称：低电平选通电流IST(L)

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测： ±200mA

  资质说明：
• 输入失调电流IIO
  能力名称：输入失调电流IIO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测：10pA~40uA

  资质说明：
• 电源电压抑制比KSVR
  能力名称：电源电压抑制比KSVR

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：

  资质说明：
• 高电平输出电流IOH
  能力名称：高电平输出电流IOH

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测： ±400mA

  资质说明：
• 低电平输出电流IOL
  能力名称：低电平输出电流IOL

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测： ±400mA

  资质说明：
• 共模抑制比KCMR
  能力名称：共模抑制比KCMR

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：

  资质说明：
• 高电平选通电流IST(H)
  能力名称：高电平选通电流IST(H)

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测： ±200mA

  资质说明：
• 静态功耗PD
  能力名称：静态功耗PD

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测：±400mA

  资质说明：
• 输出低电平电压VOL
  能力名称：输出低电平电压VOL

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测： ±40 V

  资质说明：
• 输入失调电压VIO
  能力名称：输入失调电压VIO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测：10uV~20mV

  资质说明：
• 开环电压增益AVD
  能力名称：开环电压增益AVD

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：

  资质说明：
• 输入偏置电流IIB
  能力名称：输入偏置电流IIB

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测：10pA~40uA

  资质说明：
• 输出高电平电压VOH
  能力名称：输出高电平电压VOH

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-96/

  限制说明：只测： ±40 V

  资质说明：