| 检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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| 输入失调电压 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 低电平输出电流 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 选通延迟时间 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 静态功耗 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 高电平输出电流 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 输出高电平电压 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 选通电流 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 开环单端输出电阻 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 输入失调电流温度系数 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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| 开环差模输入电阻 | 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 | SJ/T10805-2000 |
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