检测能力

• 集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO
  能力名称：集电极-发射极击穿电压V(BR)CEO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 高温寿命（非工作）
  能力名称：高温寿命（非工作）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：能做：高温温度≤200℃

  资质说明：
• 基极-发射极饱和电压VBEsat
  能力名称：基极-发射极饱和电压VBEsat

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管 GB/T第IV章/

  限制说明：

  资质说明：
• 集电极-发射极截止电流ICEO
  能力名称：集电极-发射极截止电流ICEO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管 GB/T第IV章/

  限制说明：

  资质说明：
• 集电极-发射极饱和电压VCEsat
  能力名称：集电极-发射极饱和电压VCEsat

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管 GB/T第IV章/

  限制说明：

  资质说明：
• 高温反偏
  能力名称：高温反偏

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：能做：老化电压≤1500V

  资质说明：
• 温度循环
  能力名称：温度循环

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：能做：-65℃～200℃

  资质说明：
• 粒子碰撞噪声检测试验（PIND）
  能力名称：粒子碰撞噪声检测试验（PIND）

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：不测：负荷>400g。

  资质说明：
• 恒定加速度
  能力名称：恒定加速度

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：不测：试件规格> 76.33mm×38.23mm×10.16mm, 加速度值>294000 m/s 2。。

  资质说明：
• 发射极-基极截止电流IEBO
  能力名称：发射极-基极截止电流IEBO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管/GB/T4587-1994 第IV章

  限制说明：

  资质说明：
• 发射极-基极击穿电压V(BR)EBO
  能力名称：发射极-基极击穿电压V(BR)EBO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管 GB/T第IV章/

  限制说明：

  资质说明：
• 密封性检查
  能力名称：密封性检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 外部目检
  能力名称：外部目检

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：

  资质说明：
• 正向电流传输比HFE
  能力名称：正向电流传输比HFE

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管/GB/T4587-1994 第IV章

  限制说明：

  资质说明：
• 集电极-基极截止电流ICBO
  能力名称：集电极-基极截止电流ICBO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管/GB/T4587-1994 第IV章

  限制说明：能做：功率0～300W， 特征频率0～500MHz

  资质说明：
• 稳态功率
  能力名称：稳态功率

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997

  限制说明：能做：功率0～300W

  资质说明：
• 集电极-基极击穿电压V(BR)CBO
  能力名称：集电极-基极击穿电压V(BR)CBO

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体分立器件和集成电路第7部分:双极性晶体管 GB/T第IV章/

  限制说明：

  资质说明：