只有通过实名认证的机构用户,才可以进入管理后台哦。

知道了 升级为机构用户

上海集成电路研发中心有限公司测试实验室上海集成电路研发测试实验室

分享到：

集成电路测试场效应管

检测能力
  • 热载流子注入效应
    能力名称：热载流子注入效应
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：1.在直流应力下测量N沟金属氧化物半导体热载流子注入效应导致退化的程序2.在直流应力下测量P沟金属氧化物半导体热载流子注入效应导致退化的程序3.外包工艺线质量指南 1.JESD28-A:2001/2.JESD60-A:2004 3.JEP001A:2014
    限制说明：
    资质说明：
免费咨询

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
热载流子注入效应 1.在直流应力下测量N沟金属氧化物半导体热载流子注入效应导致退化的程序2.在直流应力下测量P沟金属氧化物半导体热载流子注入效应导致退化的程序3.外包工艺线质量指南 1.JESD28-A:2001 2.JESD60-A:2004 3.JEP001A:2014