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西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心

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电子及电气元件

检测能力
  • 密封
    能力名称：密封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《电子及电气元件试验方法》/GJB360B-2009
    限制说明：只测： 漏率：(1～1×10-13)Pa•m3/s
    资质说明：
  • 高温寿命
    能力名称：高温寿命
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《电子及电气元件试验方法》/GJB360B-2009
    限制说明：只测： 温度：≤125℃
    资质说明：
  • 温度冲击试验
    能力名称：温度冲击试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《电子及电气元件试验方法》/GJB360B-2009
    限制说明：只测： -55℃～+125℃
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《电子及电气元件试验方法》/GJB360B-2009
    限制说明：只测：振动：（25～2000）Hz （19.6～196）m/s2冲击：（980～29400）m/s2
    资质说明：
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检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
密封 《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 只测： 漏率：(1～1×10-13)Pa•m3/s
高温寿命 《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 只测： 温度：≤125℃
温度冲击试验 《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 只测： -55℃～+125℃
粒子碰撞噪声检测试验 《电子及电气元件试验方法》 GJB360B-2009 只测：振动：（25～2000）Hz （19.6～196）m/s2冲击：（980～29400）m/s2