检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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基极-发射极饱和电压 | 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 | GB/T4587-1994 第Ⅳ章 | 只测: 电压:≤1500V 电流:≤20A |
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集电极-基极截止电流 | 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 | GB/T 4587-1994 | 只测: 电压:≤1500V 电流:≤20A |
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集电极-发射极击穿电压 | 《半导体分立器件试验方法》 | GJB128A-1997 | 只测: 电压:≤1500V 电流:≤20A |
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集电极-发射极截止电流 | 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 | GB/T4587-1994 第Ⅳ章 | 只测: 电压:≤1500V 电流:≤20A |
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外部目检 | 《半导体分立器件试验方法》 | GJB128A-1997 | 只测: 放大镜≤10倍 |
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发射极-基极截止电流 | 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 | GB/T 4587-1994 | 只测: 电压:≤1500V 电流:≤20A |
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集电极-发射极饱和电压 | 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 | GB/T4587-1994 第Ⅳ章 | 只测: 电压:≤1500V 电流:≤20A |
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共射极正向电流传输比 | 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 | GB/T 4587-1994 | 只测:20V/20A |
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