只有通过实名认证的机构用户,才可以进入管理后台哦。

知道了 升级为机构用户

华测检测认证集团股份有限公司华测集团

分享到：

电子电气（器）产品与家用电器电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析

检测能力
  • 电性能测试
    能力名称：电性能测试
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 扫描电子显微技术
    能力名称：扫描电子显微技术
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 开封
    能力名称：开封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2/22 February2017
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 外部检查
    能力名称：外部检查
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2/22 February2017
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 超声波扫描
    能力名称：超声波扫描
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：非气密性封装电子元器件的声学显微镜扫描/IPC/JEDECJ-STD-035-1999
    限制说明：
    资质说明：
  • 切片观察
    能力名称：切片观察
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2/22 February2017
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • X-ray透视检查
    能力名称：X-ray透视检查
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2/22 February2017
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • X-ray透视检查
    能力名称：X-ray透视检查
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 外部检查
    能力名称：外部检查
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB 548B-2005
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 电性能测试
    能力名称：电性能测试
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2/22 February2017
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 开封
    能力名称：开封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB 548B-2005
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 扫描电子显微技术
    能力名称：扫描电子显微技术
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2/22 February2017
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
  • 切片观察
    能力名称：切片观察
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只用方法5003
    资质说明：
免费咨询

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
电性能测试 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只用方法5003
扫描电子显微技术 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只用方法5003
开封 微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2 22 February2017 只用方法5003
外部检查 微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2 22 February2017 只用方法5003
超声波扫描 非气密性封装电子元器件的声学显微镜扫描 IPC/JEDECJ-STD-035-1999
切片观察 微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2 22 February2017 只用方法5003
X-ray透视检查 微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2 22 February2017 只用方法5003
X-ray透视检查 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只用方法5003
外部检查 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 只用方法5003
电性能测试 微电路试验方法标准 MIL-STD-883K w/CHANGE 2 22 February2017 只用方法5003