检测能力

• X射线检查
  能力名称：X射线检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析方法/GJB4027A-2006 工作项目1103

  限制说明：只测： 2.3 X射线检查； 几何放大2000X以下； 分辨力：1μm

  资质说明：
• 扫描电子显微镜检查
  能力名称：扫描电子显微镜检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析方法/GJB 4027A-2006

  限制说明：只测： 2.7扫描电子显微镜检查 b)&c)

  资质说明：
• X射线检查
  能力名称：X射线检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB 548B-2005方法2012.1

  限制说明：只测： 几何放大2000X以下； 分辨力：1μm

  资质说明：
• 扫描声学显微镜检查
  能力名称：扫描声学显微镜检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析方法/GJB4027A-2006 工作项目1103

  限制说明：只测：2.4 扫描声学显微镜检查2.4.3中所有区域； 分辨力： 0.129mm～0.0113mm； 超声波探头：15MHz,30MHz,50MHz,230MHz

  资质说明：
• 外部目检
  能力名称：外部目检

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析方法/GJB4027A-2006 工作项目1103

  限制说明：只测： 2.2 外部目检

  资质说明：
• 内部目检
  能力名称：内部目检

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析方法/GJB4027A-2006

  限制说明：只测： 2.5.2.4.2 湿法化学喷射刻蚀； 2.5.3 检查

  资质说明：
• 内部目检
  能力名称：内部目检

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析方法/GJB4027A-2006 工作项目1103

  限制说明：只测：2.5.2.4.1 手工湿法刻蚀

  资质说明：