检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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集电极-发射极击穿电压 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测≤500V的电压;不测表面贴装器件 |
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发射极-基极截止电流 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测40µA~4A的电流;不测表面贴装器件 |
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稳态功率 | 半导体分立器件试验方法 | GJB128A-1997 | 老化功率≤50W;不测表面贴装器件 |
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集电极-基极截止电流 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测40µA~4A的电流;不测表面贴装器件 |
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集电极-基极击穿电压 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测≤500V的电压;不测表面贴装器件 |
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集电极-发射极截止电流 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 第Ⅳ章第1节 | 只测40µA~4A的电流;不测表面贴装器件 |
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栅-源截止电压 | 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 | GB/T4586-1994 | 只测≤500V的电压;不测表面贴装器件 |
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温度循环 | 半导体分立器件试验方法 | GJB128A-1997 | 只测高温温度≤220℃ |
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发射极-基极击穿电压 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测≤500V的电压;不测表面贴装器件 |
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共发射极正向电流传输比的静态值 | 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 第Ⅳ章第2节 | 只测40µA~4A的电流;不测表面贴装器件 |
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