检测能力

• 压控振荡器线性误差
  能力名称：压控振荡器线性误差

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理/GB/T14032-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 中心频率最大值
  能力名称：中心频率最大值

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理/GB/T14031-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 动态功耗
  能力名称：动态功耗

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理/GB/T14031-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 解调输出端失调电压
  能力名称：解调输出端失调电压

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理/GB/T14032-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 中心频率电源电压灵敏度
  能力名称：中心频率电源电压灵敏度

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理/GB/T14031-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 压控振荡器最高工作频率
  能力名称：压控振荡器最高工作频率

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理/GB/T14032-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 中心频率偏差
  能力名称：中心频率偏差

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理/GB/T14031-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 压控振荡器输出频率温度系数
  能力名称：压控振荡器输出频率温度系数

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理/GB/T14032-1992

  限制说明：

  资质说明：
• 中心频率温度系数
  能力名称：中心频率温度系数

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理/GB/T14031-1992

  限制说明：

  资质说明：