检测能力

• 输入高电平电压VIH
  能力名称：输入高电平电压VIH

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输出低电平电压VOL
  能力名称：输出低电平电压VOL

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输出高电平电压VOH
  能力名称：输出高电平电压VOH

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输出高阻态时低电平电流IOZL
  能力名称：输出高阻态时低电平电流IOZL

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输入正向阈值电压VIT+
  能力名称：输入正向阈值电压VIT+

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输出短路电流Ios
  能力名称：输出短路电流Ios

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输入低电平电压VIL
  能力名称：输入低电平电压VIL

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输出高阻态时高电平电流IOZH
  能力名称：输出高阻态时高电平电流IOZH

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 老炼试验
  能力名称：老炼试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005

  限制说明：只测管脚数≤20的双列直插电路

  资质说明：
• 输入低电平电流IIL
  能力名称：输入低电平电流IIL

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 电源电流IDD
  能力名称：电源电流IDD

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输入负向阈值电压VIT-
  能力名称：输入负向阈值电压VIT-

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 输入箝位电压VIK
  能力名称：输入箝位电压VIK

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：只测管脚数≤32；封装形式：双列直插；施加电流量程：-40.95µA～350mA;测量电流量程：-4.095µA～350mA; 施加电压量程：0～20.475v；测量电压量程：-3v～+20.48V

  资质说明：
• 输入高电平电流IIH
  能力名称：输入高电平电流IIH

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000

  限制说明：

  资质说明：
• 稳定性烘焙
  能力名称：稳定性烘焙

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005

  限制说明：只测温度≤180℃

  资质说明：
• 温度循环
  能力名称：温度循环

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005

  限制说明：只测温度≤220℃

  资质说明：