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西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心

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半导体二极管

检测能力
  • 正向电压 VF
    能力名称：正向电压 VF
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》/GB/T 4023-1997
    限制说明：只测： IF：≤20A, VF：≤20V
    资质说明：
  • 正向电压 VF
    能力名称：正向电压 VF
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测： IF：≤20A, VF：≤20V
    资质说明：
  • 反向漏电流 IR
    能力名称：反向漏电流 IR
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测： IR：≤20A
    资质说明：
  • 反向漏电流 IR
    能力名称：反向漏电流 IR
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》/GB/T 4023-1997
    限制说明：只测： IR：≤20A
    资质说明：
  • 外部目检
    能力名称：外部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测： 放大镜≤10倍
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
正向电压 VF 《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》 GB/T 4023-1997 只测： IF：≤20A, VF：≤20V
正向电压 VF 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： IF：≤20A, VF：≤20V
反向漏电流 IR 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： IR：≤20A
反向漏电流 IR 《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》 GB/T 4023-1997 只测： IR：≤20A
外部目检 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： 放大镜≤10倍