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微电子器件

检测能力
  • 外部目检
    能力名称：外部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《微电子器件试验方法和程序》/GJB548B-2005 方法2009.1
    限制说明：只测： 放大镜≤ 10倍
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《微电子器件试验方法和程序》/GJB548B-2005
    限制说明：只测：振动：（25～2000）Hz （19.6～196）m/s2冲击：（980～29400）m/s2
    资质说明：
  • 密封
    能力名称：密封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《微电子器件试验方法和程序》/GJB548B-2005
    限制说明：只测： 漏率：(1～1×10-13)Pa•m3/s
    资质说明：
  • 稳定性烘焙
    能力名称：稳定性烘焙
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《微电子器件试验方法和程序》/GJB548B-2005
    限制说明：只测： 温度：≤150℃
    资质说明：
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《微电子器件试验方法和程序》/GJB548B-2005
    限制说明：只测： -55℃～+125℃
    资质说明：
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检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
外部目检 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法2009.1 只测： 放大镜≤ 10倍
粒子碰撞噪声检测试验 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 只测：振动：（25～2000）Hz （19.6～196）m/s2冲击：（980～29400）m/s2
密封 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 只测： 漏率：(1～1×10-13)Pa•m3/s
稳定性烘焙 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 只测： 温度：≤150℃
温度循环 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 只测： -55℃～+125℃