检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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最高额定工作温度下的静态试验 | 混合集成电路总规范 | GJB2438A-2002 | 只测:最高温度T≤125℃ |
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键合强度 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 |
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最低额定工作温度下的动态试验 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 | 只测:最低温度T≥-55℃ |
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芯片剪切强度 | 混合集成电路总规范 | GJB2438A-2002 |
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芯片剪切强度 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 |
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最高额定工作温度下的开关试验 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 | 只测:最高温度T≤125℃ |
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耐焊接热 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 |
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最低额定工作温度下的开关试验 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 | 只测:最低温度T≥-55℃ |
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25℃下的功能试验 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 |
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静电放电敏感度 | 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 | GB/T8976-1996 |
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