检测能力

• 阈值试验
  能力名称：阈值试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序/

  限制说明：只测：3.2.3 a）阈值试验

  资质说明：
• 外部检查
  能力名称：外部检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序/

  限制说明：只测：3.2.1 外部检查

  资质说明：
• 两个或三个引出端之间电测试
  能力名称：两个或三个引出端之间电测试

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005 方法5003

  限制说明：只测：3.2.3c）两个或三个引出端之间电测试

  资质说明：
• 扫描电子显微技术和电子束显微分析
  能力名称：扫描电子显微技术和电子束显微分析

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB/

  限制说明：只测：3.4 e) 扫描电子显微技术和电子束显微分析

  资质说明：
• 内部检查
  能力名称：内部检查

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序/

  限制说明：只测：3.2.7 内部检查

  资质说明：
• X射线照相
  能力名称：X射线照相

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序/

  限制说明：只测：3.2.4 X射线照相

  资质说明：
• 外壳绝缘
  能力名称：外壳绝缘

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序/

  限制说明：只测：3.2.3 b）外壳绝缘

  资质说明：