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西南技术物理研究所检测校准中心实验室西南技术物理研究所检测校准中心实验室

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TTL电路

检测能力
  • 输出低电平电源电流
    能力名称：输出低电平电源电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输出短路电流
    能力名称：输出短路电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输入低电平电流
    能力名称：输入低电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输入钳位电压
    能力名称：输入钳位电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电压范围：2.0475V～20.475V,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输入电流
    能力名称：输入电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输出高阻态时低电平电流
    能力名称：输出高阻态时低电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输出高阻态时高电平电流
    能力名称：输出高阻态时高电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输出高电平电源电流
    能力名称：输出高电平电源电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输入高电平电流
    能力名称：输入高电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输出高电平电压
    能力名称：输出高电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电压范围：2.0475V～20.475V,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 输出低电平电压
    能力名称：输出低电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路TTL电路测试方法/SJ/T 10735-1996
    限制说明：只测：电压范围：2.0475V～20.475V,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
输出低电平电源电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输出短路电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输入低电平电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输入钳位电压 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电压范围：2.0475V～20.475V,仅对特定客户的特定要求
输入电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输出高阻态时低电平电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输出高阻态时高电平电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输出高电平电源电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输入高电平电流 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电流范围：±4.095uA～±409.5mA,仅对特定客户的特定要求
输出高电平电压 半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996 只测：电压范围：2.0475V～20.475V,仅对特定客户的特定要求