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微电子器件

检测能力
  • 耐湿试验
    能力名称：耐湿试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB 548B-2005
    限制说明：只做： 温度范围：+20℃～+85℃ 湿度范围：25%RH～98%RH 容积：≤1m³
    资质说明：
  • 绝缘电阻测试
    能力名称：绝缘电阻测试
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做： 测试电压范围：（10～1000）V 电阻测量范围：（10～100）TΩ 测试电流范围：1pA～1mA
    资质说明：
  • 温度循环试验
    能力名称：温度循环试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做： 容积：≤1m³ 温度范围：-70℃～+300℃
    资质说明：
  • 稳定性烘焙试验
    能力名称：稳定性烘焙试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB 548B-2005
    限制说明：只做： 容积：≤1m³ 温度范围：常温～+300℃
    资质说明：
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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
耐湿试验 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 只做： 温度范围：+20℃～+85℃ 湿度范围：25%RH～98%RH 容积：≤1m³
绝缘电阻测试 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做： 测试电压范围：（10～1000）V 电阻测量范围：（10～100）TΩ 测试电流范围：1pA～1mA
温度循环试验 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做： 容积：≤1m³ 温度范围：-70℃～+300℃
稳定性烘焙试验 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 只做： 容积：≤1m³ 温度范围：常温～+300℃