检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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内部检查 | 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序 | 只测: 3.2.7 内部检查 |
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外观检查 | 电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范 | GB/T5729-2003IEC 60115-1:2001 | 只测: 4.4.1 外观检查 |
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电阻值 | 电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范 | GB/T5729-2003IEC 60115-1:2001 | 只测: 4.5 电阻值 范围:1μΩ~100MΩ |
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外观检查 | 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003微电路的失效分析程序 | 只测: 3.2.1 外部检查 |
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X射线照相 | 电子及电气元件试验方法 | GJB360B-2009 | 只测: 几何放大2000X以下; 分辨力:1μm |
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引出端强度 | 电子及电气元件试验方法 | GJB 360B-2009方法211 | 只测: 试验条件A |
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