| 检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
|---|---|---|---|---|
| 开环电压增益 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T 10738-1996 | 只测:(40~146)dB,仅对特定客户的特定要求 |
|
| 输入失调电压 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T 10738-1996 | 只测:(0~2)mV,仅对特定客户的特定要求 |
|
| 共模仰制比 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T 10738-1996 | 只测:(40~146)dB,仅对特定客户的特定要求 |
|
| 输入失调电流 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T10738-1996 | 只测:(0~8)uA,仅对特定客户的特定要求 |
|
| 电源电压仰制比 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T 10738-1996 | 只测:(40~146)dB,仅对特定客户的特定要求 |
|
| 输入偏置电流 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T 10738-1996 | 只测:(0~8)uA,仅对特定客户的特定要求 |
|
| 静态功耗 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | SJ/T10738-1996 | 只测:(0~1200)mW,仅对特定客户的特定要求 |
|
