| 检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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| 集电极-基极截止电流 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电流:(0~40)mA |
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| 集电极-基极击穿电压 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 | 只测常温测试 电压:(0~2000)V |
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| 发射极-基极击穿电压 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电压:(0~500)V |
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| 基极-发射极饱和电压 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电压:(0~10)V |
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| 发射极-基极截止电流 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电流:(0~40)mA |
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| 集电极-发射极击穿电压 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电压:(0~2000)V |
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| 放大倍数 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电压:(0~10)V 电流:(0~40)A |
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| 集电极-发射极饱和电压 | 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 | GB/T4587-1994 | 只测常温测试 电压:(0~10)V |
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