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无尘室用擦拭材料

检测能力
  • 微颗粒物
    能力名称：微颗粒物
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测液体颗粒计数法，测量范围：0.2μm～20μm
    资质说明：
  • 表面硫酸根(SO42-）离子
    能力名称：表面硫酸根(SO42-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面亚硝酸根（NO2-）离子
    能力名称：表面亚硝酸根（NO2-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面溴（Br-）离子
    能力名称：表面溴（Br-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面镁（Mg2+）离子含量
    能力名称：表面镁（Mg2+）离子含量
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面钠（Na+）离子
    能力名称：表面钠（Na+）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面氟（F-）离子
    能力名称：表面氟（F-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面磷酸根(PO43-）离子
    能力名称：表面磷酸根(PO43-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面硝酸根(NO3-）离子
    能力名称：表面硝酸根(NO3-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 总的可萃取物质
    能力名称：总的可萃取物质
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测7.1.1 重量法
    资质说明：
  • 表面氯（Cl-）离子
    能力名称：表面氯（Cl-）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面钙（Ca2+）离子含量
    能力名称：表面钙（Ca2+）离子含量
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面钾（K+）离子
    能力名称：表面钾（K+）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面铵根（NH4+）离子
    能力名称：表面铵根（NH4+）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
  • 表面锂（Li+）离子
    能力名称：表面锂（Li+）离子
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法/IEST-RP-CC004.3-2004
    限制说明：只测IC法
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
微颗粒物 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测液体颗粒计数法，测量范围：0.2μm～20μm
表面硫酸根(SO42-）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面亚硝酸根（NO2-）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面溴（Br-）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面镁（Mg2+）离子含量 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面钠（Na+）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面氟（F-）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面磷酸根(PO43-）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
表面硝酸根(NO3-）离子 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测IC法
总的可萃取物质 洁净室及其它受控环境中的揩拭材料的推荐评估方法 IEST-RP-CC004.3-2004 只测7.1.1 重量法