检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
---|---|---|---|---|
老炼 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 |
![]() |
|
温度循环 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 | 只做: 工作空间: 20cm×20cm×30cm, 高温区: 70℃~150℃ 低温区: -65℃~-20℃ |
![]() |
恒定加速度 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 | 只做: 最大加速度:294,000m/s2 最大负载:30kg |
![]() |
耐湿 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 | 只做: 工作空间: 75cm×75cm×85cm 温度范围: 25℃~85℃ 相对湿度: 10%RH~95%RH |
![]() |
高温贮存 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 | 只做: 工作空间: 75cm×75cm×85cm 最高温度: 200℃ |
![]() |
密封 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 |
![]() |
|
盐雾 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) | GB/T12750-2006 | 只做: 工作空间: 40cm×40cm×60cm |
![]() |