检测能力

• 电源电流测试
  能力名称：电源电流测试

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体器件 集成电路第11部分:半导体集成电路分规范（不包括混合电路）/GB/12750-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 增益试验
  能力名称：增益试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体器件 集成电路第11部分:半导体集成电路分规范（不包括混合电路）/GB/12750-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 高温寿命试验
  能力名称：高温寿命试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005

  限制说明：

  资质说明：
• 线性放大试验
  能力名称：线性放大试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体器件 集成电路第11部分:半导体集成电路分规范（不包括混合电路）/GB/12750-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 耐湿
  能力名称：耐湿

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005

  限制说明：

  资质说明：
• 温度冲击试验
  能力名称：温度冲击试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005

  限制说明：

  资质说明：
• 电压基准试验
  能力名称：电压基准试验

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体器件 集成电路第11部分:半导体集成电路分规范（不包括混合电路）/GB/12750-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 开路/短路
  能力名称：开路/短路

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：半导体器件 集成电路第11部分:半导体集成电路分规范（不包括混合电路）/GB/12750-2006

  限制说明：

  资质说明：
• 外形尺寸
  能力名称：外形尺寸

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005 2016

  限制说明：

  资质说明：