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CMOS集成电路

检测能力
  • 输出低电平 电流
    能力名称：输出低电平 电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 电源电流
    能力名称：电源电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输入高电平 电流
    能力名称：输入高电平 电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输出高阻态时高电平电流
    能力名称：输出高阻态时高电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输入低电平 电压
    能力名称：输入低电平 电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V
    资质说明：
  • 输出高阻态时低电平电流
    能力名称：输出高阻态时低电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输出低电平 电压
    能力名称：输出低电平 电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V
    资质说明：
  • 输入低电平 电流
    能力名称：输入低电平 电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输出高电平 电流
    能力名称：输出高电平 电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输出高电平 电压
    能力名称：输出高电平 电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V
    资质说明：
  • 输出短路电流
    能力名称：输出短路电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
    资质说明：
  • 输入高电平 电压
    能力名称：输入高电平 电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理/SJ/T10741-2000
    限制说明：只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V
    资质说明：
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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
输出低电平 电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
电源电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
输入高电平 电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
输出高阻态时高电平电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
输入低电平 电压 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V
输出高阻态时低电平电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
输出低电平 电压 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V
输入低电平 电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
输出高电平 电流 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电流：（-409.5～+409.5）mA
输出高电平 电压 半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 只测常温测试 电压：（-20.475～+20.475）V