检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
---|---|---|---|---|
输出高阻态时高电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |
输出低电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |
输出高电平电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±15V |
![]() |
输入低电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |
输出高电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |
功能测试 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 通道数:≤128 频率只测2kHz~100MHz |
![]() |
输出低电平电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±15V |
![]() |
电源电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |
输出低阻态时低电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |
输入高电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
![]() |