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西南技术物理研究所检测校准中心实验室西南技术物理研究所检测校准中心实验室

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电子元器件

检测能力
  • 温度循环试验
    能力名称：温度循环试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：只做:温度循环试验条件A、B、C、F、G
    资质说明：
  • 恒定加速度试验
    能力名称：恒定加速度试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法212 GJB方法212/
    限制说明：只做：Y1方向30000m/s2～200000m/s2,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 恒定加速度试验
    能力名称：恒定加速度试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：只做：Y1方向30000m/s2～200000m/s2
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：
    资质说明：
  • 老炼试验
    能力名称：老炼试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：只做：高温：≤150℃
    资质说明：
  • 密封（氦质谱检漏）
    能力名称：密封（氦质谱检漏）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：只做：试验条件H1
    资质说明：
  • 密封（氟油检漏）
    能力名称：密封（氟油检漏）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做：试验条件C1
    资质说明：
  • 恒定加速度试验
    能力名称：恒定加速度试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做:方法A、B、C、D、E
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法217/GJB360A-1996
    限制说明：仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 恒定加速度试验
    能力名称：恒定加速度试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：只做:Y1方向30000m/s2～200000m/s2
    资质说明：
  • 老炼试验
    能力名称：老炼试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法108/GJB360A-1996 方法
    限制说明：只做：高温≤150℃,仅对特定客户的特定要求
    资质说明：
  • 温度循环试验
    能力名称：温度循环试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做:条件A、B、C
    资质说明：
  • 老炼试验
    能力名称：老炼试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：只做：高温≤150℃
    资质说明：
  • 高温存储
    能力名称：高温存储
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做：高温≤150℃
    资质说明：
  • 密封（氦质谱检漏）
    能力名称：密封（氦质谱检漏）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做：试验条件A
    资质说明：
  • 高温存储
    能力名称：高温存储
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：只做：高温≤150℃
    资质说明：
  • 老炼试验
    能力名称：老炼试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只做：高温≤150℃
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电路试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：
    资质说明：
  • 密封（氟油检漏）
    能力名称：密封（氟油检漏）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-1997
    限制说明：只做：试验条件C
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
温度循环试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 只做:温度循环试验条件A、B、C、F、G
恒定加速度试验 电子及电气元件试验方法212 GJB方法212 只做：Y1方向30000m/s2～200000m/s2,仅对特定客户的特定要求
恒定加速度试验 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 只做：Y1方向30000m/s2～200000m/s2
粒子碰撞噪声检测试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
老炼试验 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 只做：高温：≤150℃
密封（氦质谱检漏） 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 只做：试验条件H1
密封（氟油检漏） 微电路试验方法和程序 GJB548B-2005 只做：试验条件C1
恒定加速度试验 微电路试验方法和程序 GJB548B-2005 只做:方法A、B、C、D、E
粒子碰撞噪声检测试验 电子及电气元件试验方法217 GJB360A-1996 仅对特定客户的特定要求
恒定加速度试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 只做:Y1方向30000m/s2～200000m/s2