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低压电器半导体设备保护用熔断体

检测能力
  • 温升和耗散功率
    能力名称:温升和耗散功率
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:2012
    限制说明:
    资质说明:
  • 额定电流验证
    能力名称:额定电流验证
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:20128.4.3.2
    限制说明:
    资质说明:
  • 约定不熔断电流
    能力名称:约定不熔断电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:2012
    限制说明:
    资质说明:
  • 约定熔断电流
    能力名称:约定熔断电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:20128.4.3.1b)
    限制说明:
    资质说明:
  • 分断能力验证
    能力名称:分断能力验证
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:2012
    限制说明:
    资质说明:
  • 全部参数
    能力名称:全部参数
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:2012
    限制说明:只测:短时耐受电流420V/120kA/1s、660V/80kA/1s及以下
    资质说明:
  • 过载能力验证
    能力名称:过载能力验证
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016/IEC 60269-4:2012
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
温升和耗散功率 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012
额定电流验证 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:20128.4.3.2
约定不熔断电流 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012
约定熔断电流 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:20128.4.3.1b)
分断能力验证 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012
全部参数 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 只测:短时耐受电流420V/120kA/1s、660V/80kA/1s及以下
过载能力验证 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016 IEC 60269-4:2012