检测能力

• 场均匀性
  能力名称：场均匀性

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：电磁兼容 第4-3部分:试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验/IEC61000-4-3:2006+A1:2007+A2:2010 Edition

  限制说明：

  资质说明：
• 全电波暗室的场地衰减偏差
  能力名称：全电波暗室的场地衰减偏差

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地/GB/T 6113.104-2016

  限制说明：

  资质说明：
• 半电波暗室的场地衰减偏差
  能力名称：半电波暗室的场地衰减偏差

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地/GB/T 6113.104-2016

  限制说明：

  资质说明：
• 背景噪声
  能力名称：背景噪声

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：工业、科学和医疗(ISM)射频设备 骚扰特性 限值和测量方法/GB 4824-2013

  限制说明：

  资质说明：
• 背景噪声
  能力名称：背景噪声

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：工业、科学和医疗设备 射频骚扰特性 限值和测量方法/CISPR11:2015+A1:2016 Edition

  限制说明：

  资质说明：
• 场均匀性
  能力名称：场均匀性

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验/GB/T 17626.3-2016

  限制说明：

  资质说明：
• 背景噪声
  能力名称：背景噪声

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法/CISPR22:2008 Edition

  限制说明：

  资质说明：
• 半电波暗室的场地衰减偏差
  能力名称：半电波暗室的场地衰减偏差

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地/CISPR16-1-4:2010+A1:2012+A2:2017 Edition

  限制说明：

  资质说明：
• 全电波暗室的场地衰减偏差
  能力名称：全电波暗室的场地衰减偏差

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地/CISPR16-1-4:2010+A1:2012+A2:2017 Edition

  限制说明：

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• 场地电压驻波比
  能力名称：场地电压驻波比

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地/GB/T 6113.104-2016

  限制说明：

  资质说明：
• 场地电压驻波比
  能力名称：场地电压驻波比

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地/CISPR16-1-4:2010+A1:2012+A2:2017 Edition

  限制说明：

  资质说明：
• 背景噪声
  能力名称：背景噪声

  一级类别：

  二级类别：

  标准名称/编号：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法/GB9254-2008

  限制说明：

  资质说明：