| 检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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| 电流调整率SI | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | GB-T 4377-1996 | 只测: ±1000mV |
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| 纹波抑制比Srip | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | GB-T 4377-1996 |
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| 备用消耗电流ID和备用消耗电流变化⊿ID | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | GB-T 4377-1996 | 只测: ±100mA |
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| 基准电压VREF | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | GB-T 4377-1996 | 只测: ±20V |
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| 电压调整率SV | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | GB-T 4377-1996 | 只测: ±1000mV |
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