检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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温升 | 家用和类似用途插头插座 第1部分:通用要求 IEC 60884-1(ed.3):2002;IEC 60884-1(ed.3.1):2006;IEC 60884-1:2002+AMD1:2006+AMD2:2013;J 60884-1 (JIS C 8282-1:2010);CS 0017:2003;SNI 04-3892.1:2006;TIS 166-2549:2006; | IS1293:2005 | 不测:暗装插座冲击试验 |
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电气间隙, 爬电距离,穿通绝缘 | 家用和类似用途插头插座 第1部分:通用要求 IEC 60884-1(ed.3):2002;IEC 60884-1(ed.3.1):2006;IEC 60884-1:2002+AMD1:2006+AMD2:2013;J 60884-1 (JIS C 8282-1:2010);CS 0017:2003;SNI 04-3892.1:2006;TIS 166-2549:2006;IS 1293:2005; | AS/NZS60884.1:2013 cl. | 不测:暗装插座冲击试验 |
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部分测试 | 家用和类似用途的插头和插座.第1部分:通用要求;家用及类似用途的插头和插座:型号和尺寸 | TCVN6188-1:2007 | 不测:暗装插座冲击试验 |
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软缆固定装置测试 | 认可和试验规范--插头和插座 AS/NZS 3112-2004,AS/NZS 3112-2004 AMDT 1,AS/NZS 3112:2011,AS/NZS 3112-2011 AMDT 1,AS/NZS 3112-2011 AMDT 2,AS/NZS 3112:2011 Amdt | 3:2016 |
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外壳防护能力测试 | 家用和类似用途插头插座 第1部分:通用要求 IEC 60884-1(ed.3):2002;IEC 60884-1(ed.3.1):2006;IEC 60884-1:2002+AMD1:2006+AMD2:2013;J 60884-1 (JIS C 8282-1:2010);CS 0017:2003;SNI 04-3892.1:2006;TIS 166-2549:2006; | IS1293:2005 | 不测:暗装插座冲击试验 |
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10A单相两极插座最小通规 | 家用和类似用途单相插头插座型式、基本参数和尺寸 | GB1002-2008 |
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耐非正常热和漏电起痕 | 家用及类似用途的15A插头和带开关插座 SS 472:1999;SS 472:2012; | MS 1577:2002 |
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高温压力测试 | 家用和类似用途插头插座 第1部分:通用要求 IEC 60884-1(ed.3):2002;IEC 60884-1(ed.3.1):2006;IEC 60884-1:2002+AMD1:2006+AMD2:2013;J 60884-1 (JIS C 8282-1:2010);CS 0017:2003;SNI 04-3892.1:2006;TIS 166-2549:2006; | IS1293:2005 | 不测:暗装插座冲击试验 |
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温度测量 | 认可和试验规范--电气产品通用要求 AS/NZS 3100:2009;am1:2010;AS/NZS 3100:2009;am1:2010;am2:2012;AS/NZS 3100:2009;Amdt 1:2010;Amdt 2:2012;Amdt 3:2014;AS/NZS 3100:2009;Amdt 1:2010;Amdt 2:2012;Amdt | 3:2014 |
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最大拔出力验证 | 家用和类似用途插头插座 第1部分:通用要求 | GB 2099.1-2008 | 不测:暗装插座冲击试验 |
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