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上海华碧检测技术有限公司上海华碧

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电子器件破坏性物理分析印制电路组件

检测能力
  • 扫描电子显微技术
    能力名称:扫描电子显微技术
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:
    资质说明:
  • 电性能测试
    能力名称:电性能测试
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:只测绝缘电阻和接触电阻
    资质说明:
  • 能谱分析
    能力名称:能谱分析
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微束分析能谱法定量分析/GB/T17359-2012
    限制说明:
    资质说明:
  • 外部检查
    能力名称:外部检查
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:刚性印制板的鉴定及性能规范/IPC-6012D:2015
    限制说明:
    资质说明:
  • 染色试验
    能力名称:染色试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:试验方法手册 IPC-TM-650/2.1.2:1976-3
    限制说明:
    资质说明:
  • 金相切片
    能力名称:金相切片
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:试验方法手册 IPC-TM-6502.1.1:2015/
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
扫描电子显微技术 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
电性能测试 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只测绝缘电阻和接触电阻
能谱分析 微束分析能谱法定量分析 GB/T17359-2012
外部检查 刚性印制板的鉴定及性能规范 IPC-6012D:2015
染色试验 试验方法手册 IPC-TM-650 2.1.2:1976-3
金相切片 试验方法手册 IPC-TM-6502.1.1:2015