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西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心西安应用光学研究所可靠性与环境检测试验中心

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半导体分立器件

检测能力
  • 密封
    能力名称：密封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测： 漏率：(1～1×10-13)Pa•m3/s
    资质说明：
  • 老炼（晶体管）
    能力名称：老炼（晶体管）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997/
    限制说明：只测： 功率：≤700mW
    资质说明：
  • 温度循环（空气-空气）
    能力名称：温度循环（空气-空气）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测： -55℃～+125℃
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称：粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测：振动：（25～2000）Hz （19.6～196）m/s2冲击：（980～29400）m/s2
    资质说明：
  • 高温寿命
    能力名称：高温寿命
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》/GJB128A-1997
    限制说明：只测： 温度：≤125℃
    资质说明：
  • 老炼（二极管、整流管和稳压管）
    能力名称：老炼（二极管、整流管和稳压管）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997/
    限制说明：只测： 功率：≤700mW
    资质说明：
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检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
密封 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： 漏率：(1～1×10-13)Pa•m3/s
老炼（晶体管） 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： 功率：≤700mW
温度循环（空气-空气） 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： -55℃～+125℃
粒子碰撞噪声检测试验 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测：振动：（25～2000）Hz （19.6～196）m/s2冲击：（980～29400）m/s2
高温寿命 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： 温度：≤125℃
老炼（二极管、整流管和稳压管） 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 只测： 功率：≤700mW