曲线追踪仪( Curve Tracer)提供半导体电子组件特性量测、电性故障分析量测(EFA,Electrical Failure Analysis)及曲线绘图(IV－CURVE)

1.量测封装后芯片的I/V曲线，可以通过好坏样品的曲线比对确认芯片的漏电情况,可帮助确认EMMI或delayer等后续操作的方案,以便快速的找到异常位置，为FA电性测试分析第一步骤。

2.快速筛选大量IC在电性功能上的好与坏(良品与不良品)

3.Open/Short Test， 使用I/V curve tracer 量测, 很适用于客退品的分析,可以简单快速确认芯片状态，是短路还是开路的。