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  • 服务简介:

    利用结温的测量,可对已封装的半导体器件热属性进行分析测量。特色:通过正向电压法较精确地测量器件实际使用过程中的结温与热阻,利用瞬态测试方法对器件的散热结构及RC模型进行分析,为器件的热可靠性分析提供科学的依据