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聚焦离子束FIB

  • 询价
  • 所在地
检测能力
  • 聚焦离子束切割
    能力名称:聚焦离子束切割
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:/
    限制说明:
    计量单位:元/时
服务周期
  • 1 天
  • 3 个工作日 涨50.00%
  • 服务周期以订单生效且样品收到后第2个工作日起算
报告类型
  • 普通报告
  • 认可报告
报告形式
  • 纸质版
报告语言
  • 中文版
报告资质
  • CNAS
  • 适用范围

    设备不但能进行低电压超高分辨的电镜观察;也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积,从事内部和截面观察及全静态三维表征,以及特定图形加工工作

  • 服务简介

    SEM分辨率: 0.7nm @ 15kV(COF)、1.0nm @ 15kV 1.0nm @ 1kV(COF)、1.4nm @ 1kV FIB分辨率:2.5nm @ 30kV FIB束流:1pA~50nA 探测器: 样品室和镜筒内二次电子探测器 样品室和镜筒内背散射电子探测器 质谱质量分辨率:>800 质谱探测极限:3ppm 质谱空间分辨率:40nm(水平方向)                3nm(深度方向)   附件:能谱仪(EDS)、EBSD


  • 样品要求

    送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。应有一定的化学、物理稳定性,在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形;无磁性、放射性和腐蚀性。

  • m***j
  • 食品营养成分检测[蛋白质检测套餐]
  • 2018-07-12
  • m***j
  • 食品营养成分检测[蛋白质][蛋白质][蛋白质]
  • 2018-07-12
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  • 食品营养成分检测[蛋白质][蛋白质][蛋白质]
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  • m***j
  • 食品营养成分检测[蛋白质][蛋白质][蛋白质]
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  • 2018-07-12