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中国科学院上海技术物理研究所中科院上海技术物理研究所

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可变角光谱型椭偏仪(可见近红外)

  • 制造厂商:J.A.Woollam
  • 购置日期:2011-04-06
  • 型号:VASE-32
  • 生产国别:
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仪器详情
  • 功能/应用范围: 具有灵活多变测试功能的V-VASE可用于各类研究中。反射光和折射光的椭偏测量,透射光和反射光的强度测量,各相异性材料的椭偏测量和交叉偏振R/T测量,退偏和散射测量。
  • 主要附件: 主机
  • 主要技术指标: 光谱范围: 240-1100nm, 紫外扩展: 193-240nm, 红外扩展: 1100-2500nm, 变角范围: 20-90度,自动旋转补偿器专利技术, 准确度:0.01度,
  • 技术特色: V-VASE是一款经典的自动可变角,单色仪分光的光谱椭偏仪。可应用于半导体、电介质、聚合物、金属、等各类薄膜的研究和分析。自动相位延迟技术保证了测量准确性,精湛的工艺保证了测试重复性。