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原子力显微镜
- 制造厂商：JPK Instruments AG
- 购置日期：2012-04-18
- 型号：NanoWizard Ⅱ
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 1.固体材料样品表面形貌测试，观测样品表面起伏粗糙度，同时可以获得样品形貌的二维和三维信息，最大扫描范围100 μm×100 μm×15 μm，最大分辨率0.2 nm；
2.纳米操控与刻蚀，能够对单一纳米粒子进行纳米级的精密操控，也可在诸如有机薄膜、硅基板等材料上进行刻蚀；
3.与扫描共聚焦显微镜联用，可进行微纳结构的光谱和成像测试；
4.力谱测试，能够测试材料表面在纳牛力作用下的力谱。
- 主要附件： 1、JPK TAOTM针尖辅助光学模块
2、奥林巴斯IX71倒置光学显微镜
- 主要技术指标： 1、噪音水平
X-Y方向小于0.3 nm RMS，Z方向小于0.2 nm RMS
2、扫描方式
样品台和针尖两种扫描方式工作。扫描管能够保证高的重复定位精度。
3、扫描范围
XY方向：≥ 100 μm×100 μm，Z方向：≥ 15 μm
4、重复定位精度
XY: 100 μm×100 μm全区范围重复定位噪声水平＜ 3 nm
- 技术特色： 本光学原子力显微镜不但能对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子等固体样品的表面在纳米尺度下进行一般原子力显微镜的形貌观察及力学等物性测量，还能够与荧光技术和先进的光学影像技术（荧光倒置显微镜、激光共聚焦显微镜、拉曼光谱仪等等）进行整合。可对单分子、单一纳米颗粒进行实时在线的操控、成像、光谱检测等。具有高重复定位精度和稳定性，可对样品表面进行纳米尺寸的刻蚀和加工。可应用于材料科学、纳米生物、物理学、化学、电子学、半导体等领域。具有数字式的控制探针-样品间距的反馈。能够在大气及液体环境下（需配备相应的载物台）准
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