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中国科学院上海光学精密机械研究所中科院上海光学精密机械研究所

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激光参数测量系统

  • 制造厂商：Roper Scientific
  • 购置日期：2002-10-01
  • 型号：Spectro-Pro 300i
  • 生产国别：美国
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仪器分类

全部

仪器详情
  • 功能/应用范围： 用于约200nm～1400nm的各种光谱（激光光谱、材料发射和吸收光谱的测量）
  • 主要附件： ST-133驱动器一台；PCI采集卡一张；Winspec32软件一份。
  • 主要技术指标： 焦距：300mm；口径：F/4；机械扫描范围：0～1400nm；三光栅：300/mm, 600/mm, 1200/mm；采用1200mm光栅/10μm狭缝时分辨率：0.1nm@435.8nm；精度：±0.2nm；重复性：±0.05nm；标准狭缝：10μm～3mm宽，14mm高。
  • 技术特色： 超强超短激光源物理与技术，强场超快激光物理的实验与理论。相关高技术的基础物理以及相关前沿交叉学科领域中具有基础性、前瞻性和战略性的应用基础研究。