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透射电子显微镜
- 制造厂商：日本电子
- 购置日期：2010-01-01
- 型号：JEM-2100F
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 应用于金属材料、高分子材料、纳米材料等的显微结构、晶粒形貌、晶体缺陷、纳米颗粒大小形态、界面结构、高分辨晶格像以及微区成分分析等
- 主要附件： EDX能谱仪，STEM-HAADF，铜单/双倾样品台，铍双倾样品台，Gatan CCD（2k×2k）
- 主要技术指标： 加速电压：200 kV
点分辨率：0.19nm
晶格分辨率：0.10nm
STEM分辨率：0.20nm
放大倍数：2 ~ 1500K
样品最大倾角：±25°
能谱仪：4Be ~ 92U
- 技术特色： 材料分析检测
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